Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Atomic force microscopy (AFM) mechanical-based lithography attracts much attention in nanomanufacturing due to its advantages of low cost, high precision and high resolution. However, debris effects during mechanical lithography often lead to an unstable machining process and inaccurate results, which limits further applications of AFM-based lithography. There is a lack of a real-time debris detection...
Mechanical properties at nanoscale are crucial fators in the applications such as nanoscale interconnects and active components in electronic, optoelectronic, and electromechanical devices. Determination of the hardness of nanostructures, especially nano-thin-film, with regime from several to hundreds nanometers is a challenge. In this study, we proposed an ultrasonic vibration (USV)-assisted atomic...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.