Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
In this study, we found that inappropriate TU (top Cu metal line) geometry design induced product reliability failures issue. The TU geometry, having poor compatibility with wafer test probe issue, couldn't withstand the stress of wafer test probe resulting in fractures. Due to the inappropriate TU geometry design had major disadvantages in circuits characteristics. Reliability estimations exhibited...
In the tradition failure analysis procedure, it is hard to find the physical root cause for 40nm NAND flash reliability testing failure. Because of it has weak micro-leak with repeating and longer metal conducting wire. We used several analysis methods to narrow down the defect location such as OBIRCH (Optical Beam Induced Resistance change) and PVC (Passive Voltage Contrast) to narrow down to 100um...
Electrochemical migration (ECM) is proved from electrochemical phenomenon involving the transport of metal ions under voltage and an electrolyte. We studied metal migration phenomenon, generation mechanism and root cause on fine pitch BGA package product. Electrical detection failures caused by excessive leakage current phenomenon after HAST stress. The leakage current result caused by electrochemical...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.