Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Mutual ESD behavior dependency between multiple devices under Transmission Line Pulse stress was investigated using transient 3-D TCAD simulation. Interestingly, the transient response of drain voltage has multiple snapback profiles in the mixed-mode test. When one of the devices in the mixed-mode test is turned on, the current waveform of the other adjacent devices shows snapback profile. This mutual...
We have developed a reliable and predictable TCAD modeling method for retention characteristics of the charge trap NAND Flash device. This modeling method can explain various retention phenomena related to temperature, program pattern, and bake time. The temperature dependency is well described by direct tunneling and thermionic emission, the pattern dependency can be explained by carrier diffusion...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.