Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Transistor sizing is a well-known technique to reduce Single Event Transients in nanometer technologies. In this work, the transistor sizing technique is evaluated at a 90 nm 3D device model for SET robustness. Mix-mode simulations at TCAD were performed in three basic logic gates of the ST 90 nm standard cell library. Results indicate that the transistor sizing can be more or less efficient to reduce...
Flash-based FPGAs are increasingly demanded in safety critical fields, in particular space and avionic ones, due to their non-volatile configuration memory. Although they are almost immune to permanent loss of the configuration data, they are composed of floating gate based switches that can suffer transient effects if hit by high energetic particles with critical consequences on the implemented logic...
The generation and propagation of single event transients (SET) in logic gate chains is studied and modeled. Regarding SET generation, we investigate the dependence of the generated SET pulse width on the struck node capacitance. Rising node capacitance may lead to amplified pulse width, indicating that increasing load capacitance alone is not an option for radiation hardening. SET propagation in...
This work presents a fault-tolerant version of the mass-produced 8-bit microprocessor M68HC11. It is able to tolerate single event transients (SETs) and single event upsets (SEUs). Based on triple modular redundancy (TMR) and time redundancy (TR) fault tolerance techniques, a protection scheme was implemented at high level in the sensitive areas of the microprocessor by using only standard gates in...
The generation and the propagation of radiation induced single event transients (SET) in CMOS circuits are evaluated. An accurate and computer efficient analytical model for SET generation and propagation is proposed. The model allows the rapid determination of the sensitivity of any MOS circuit node to SET, without the need to run circuit level simulations. The model predicts whether or not a particle...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.