Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
This paper describes a metric that measures the quality of defect inspection recipes. It takes into account several factors including nonvisual rate, defect of interest rate, defect count per wafer, and inspection time. The calculation runs automatically, and only minimal user input is necessary. Different weighting models allow giving each factor more or less importance, thus making the metric flexible...
This article describes a metric that measures the quality of defect inspection recipes. It takes into account several factors including non visual (NV) rate, defect of interest (DOI) rate, defect count per wafer, and inspection time. The calculation runs automatically and only minimal user input is necessary. Different weighting models allow giving each factor more or less importance, thus making...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.