Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
In this paper, we propose an automated technique to identify the reasons for un-testable faults and, an interactive Low Coverage Analysis flow to expedite the coverage analysis step, in scan ATPG. We seamlessly use an implication graph to keep track of the reasons that are responsible for each conflict encountered during ATPG. As ATPG progresses, for each fault, all the reasons arising from ATPG constraints...
In this paper, we propose a new search technique for ATPG, called CONCAT [1], which (a) is based on AND/OR reasoning, (b) integrates conflict driven learning, and (c) avoids over specification of test vectors. The technique works seamlessly (i) between Boolean and non-Boolean gates in industrial designs, (ii) across phases in latch-based designs, (iii) between justification and propagation tasks in...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.