Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Todays NoCs are reaching a level where it is getting very hard to ensure 100% of functionality. Consequently, fault tolerance has become an important aspect in todays design techniques and like the system itself it has to be validated and tested. A vulnerable point of attack for faults in distributed systems like NoCs is certainly the interconnect. In this paper, we will give an overview about todays...
Ensuring reliable computation at the nanoscale requires mechanisms to detect and correct errors during normal circuit operation. In this paper we propose a method for designing efficient online error detection schemes for circuits based on the identification of invariant relationships in hardware. More specifically, we present a technique that automatically identifies multi-cycle gate-level invariant...
In this paper, we investigate the use of logic implications for the online detection of intermittent faults and hard-to-detect manufacturing defects. We present techniques to efficiently identify the most powerful circuit implications that can be checked for violations so that the fraction of errors detected can be maximized while minimizing the additional hardware overhead. Importantly, our approach...
This paper presents a nonscan design-for-testability (DFT) method for register-transfer-level (RTL) circuits. We first introduce the notation to analyze the test generation complexity, as well as two classes of sequential circuits, namely: 1) the combinationallytestable class and 2) the acyclicallytestable class. Then, we introduce a new class of linear-depthtime-bounded circuits as one of the...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.