Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Utilization of an Si(331) beam conditioner together with an Si(111) double‐crystal monochromator (DCM) enables the angular resolution of synchrotron X‐ray topography to be increased by an order of magnitude compared with grazing‐incidence topography or back‐reflection topography conducted with the DCM alone. This improved technique with extremely small beam divergence is referred to as synchrotron...
Nanoindentations at room temperature have been performed on 4H‐ and 3C‐SiC single crystals, and resulting microstructures have been analyzed by Transmission Electron Microscopy. In both structures, dislocations emitted from imprints are perfect dislocations lying in the basal plane for 4H‐ and in the {111} planes for 3C‐SiC. Dislocation segments are not dissociated and they are assumed to be lying...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.