Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
We have tested and validated a non-destructive analysis method of multilayer structure, which combine X-ray emission spectroscopy and X-ray reflectometry at 0.154 and 1.33 nm. In this purpose, a series of Mo/Si and Mo/B 4 C/Si/B 4 C multilayers, deposited by magnetron sputtering, have been designed. The thickness of the Mo layer is 2 nm and that of the Si layers varies between 1 and...
We investigate on a Mo/Si multilayer interferential mirror (MIM) as a function of annealing at temperatures up to 600°C. The physicochemical state of the silicon atoms within the MIM is characterized by X-ray emission spectroscopy (XES). A thin silicide layer is detected at the interfaces of the as-prepared system, whose thickness increases upon annealing. Measurements of the reflecting power at 1...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.