Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Atomic force microscopy measurements and force theory calculations using the Lifshitz theory show that van der Waals/Casimir dispersive forces have a strong dependence on surface roughness and material optical properties. It is found that at separations below 100 nm the roughness effect is manifested through a strong deviation from the normal scaling of the force with separation distance. Moreover,...
The X-ray diffraction and atomic force microscopy are used to examine the microstructure of La_{1.85}Sr_{0.15}CuO_4 films grown by pulsed laser deposition on LaSrAlO_4 substrates. The films grow with different degrees of built-in strain, ranging from a large compressive to a large tensile in-plain strain. The tensile strain cannot be attributed to a substrate-related strain. The possible origins of...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.