Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
This study reports on a reliability investigation of AlGaN/GaN HEMTs submitted to life tests in High Temperature Operating (HTO) conditions at 150°C, 175°C, 275°C and 320°C. These life tests showed two different degradation steps of the drain current. One is occurring in the first tens of hour of the life test and characterized by a decrease of the drain current. The evolution of the electrical characteristics...
This paper presents low frequency noise (LF) measurements on InP/GaAsSb/InP HBTs. The spectral analysis of the dominant base noise source SIb has allowed to identify the 1/f noise and a RTS noise component. From LF noise measurements as a function of the temperature, the parameters of the traps responsible for the RTS noise signature have been extracted. An activation energy close to 200 eV with a...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.