Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
A dynamic-stress analysis method, based on time-resolved micro Raman spectroscopy, has been developed for reliability studies of microelectromechanical systems. This novel technique is illustrated by measuring temporally and spatially resolved stress maps of a piezoelectrically actuated silicon microcantilever when driven at its first- (6.094 kHz) and second-order (37.89 kHz) resonant frequencies...
This paper describes Raman spectroscopic stress analysis of single crystal silicon (SCS) microstructures for development of reliability evaluation technique utilized for silicon-based microelectromechanical systems (MEMS). An in-house tensile tester was employed to apply a uniaxial tensile stress to the SCS specimen with a 270 nm-height, 4 mum-square SCS boss in the gauge section. Raman spectra on...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.