Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
We have studied the effects of controlled ion bombardment on the electronic structure of the Si(001) surface. The surface was exposed to various doses of Ar + ions accelerated towards the surface at 500eV. X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) spectra of the irradiated H-terminated Si(001) surface reveal the appearance of peaks that are associated with the presence of cleaved Si bonds. Ultraviolet...
Sputter-induced electronic states and stoichiometry at the low ion-energy sputter-annealed InAs(110) surface compared to cleaved InAs(110) have been studied by Auger and UV photoelectron spectroscopy. Sputtering modifies the surface electronic structure even with 0.5 keV Ar + ions. In particular, InAs(110) surface states are quenched, while sputter-induced electronic states in the band gap...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.