Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
A framework for broadband characterization of individual nanowires (NWs) is discussed in this letter. Specifically, on-wafer multiline thru-reflect-line (TRL) measurements, finite element modeling, and specially fabricated test structures with both extremely high and low impedances are jointly used to validate the feasibility of both measurements and modeling for characterizing small components. The...
We describe the development and use of various test structures for 32 nm yield enhancement. These DC defect test structures are tested in parallel mode on a functional tester using special V/I and Pico-Amp measurement cards. This new test method provides measurement accuracy as high as plusmn10 pA along with up to 9times reduction in test time over conventional parametric testing. The large critical...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.