Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
In this paper we discuss the efficiency and accuracy of extracting potential bridging fault sites from a physical layout specification. Using a combination of developed tools and common layout and extraction tools, a fault file is generated with an ordered list of the most likely to occur bridging faults based on parasitic capacitance values. These faultsare then simulated and results are discussed...
This paper presents a novel automated post-layout flow validation tool to intensively test the MOSFETs and passive components in 32nm, 28nm and 22nm Process Design Kits (PDK). Benchmark circuits, such as, ring oscillator, logic circuits and passive delay circuits, are automatically generated, LVS (layout versus schematic) checked, extracted and simulated in multiple Model/LVS/Parasitic extraction(PEX)...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.