Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
In this work we studied the effect of the magnetron sputtering radio frequency (RF) power on the optical and structural properties of ZnO thin films. The films were characterized by X-ray diffraction (XRD), X-ray reflectometry (XRR) and UV–vis spectroscopy. The XRD results indicate that the films have grown in a wurtzite hexagonal phase with high c-axis (002) preferential orientation. The thickness,...
We study the thermal behaviour of a tri-layer multilayer, designed by inserting a third material, yttrium, into the previously studied Co/Mo2C system. The system is designed to work at near-normal incidence at the wavelength of 14.1nm. The theoretical reflectivity of Co-based multilayer (Co/Mo2C/Y system) is improved up to 54% after the addition of yttrium. Two types of multilayers with different...
Thin films of MoO 3 were prepared on quartz and Si (100) substrates by reactive dc magnetron sputtering of a Mo target in an oxygen and argon atmosphere. The structural and optical changes induced in the films due to post-growth annealing have been systematically studied by Rutherford backscattering (RBS), X-ray diffraction (XRD), X-ray reflectivity (XRR) and by optical methods. RBS studies...
In this work, the effect of post-growth annealing on the structural and optical properties of sputtered zirconium oxide films has been investigated. The temperature dependence of structure, density, and optical constants has been systematically studied by X-ray diffraction, X-ray reflectometry, atomic force microscopy (AFM) and optical spectroscopy. X-ray diffraction studies show no variation in the...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.