Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
The ISO / IEC 17025 standard request to validate the standard methods used in metrology laboratory or when they use non-standard methods or out of scope. The validation of measurement methods ensures the traceability chain according to the International System of Units (SI) in the industrial metrology field. This referential also asked to evaluate the measurement uncertainty of the proposed methods...
Recently, the PDP TV, WPT systems, etc. which radiates the electromagnetic fields of the frequency range below 30 MHz are widely provided. The measurement methods for electromagnetic interference or susceptibility generated by these devices are required, and the site validation methods are also required by the standardization. The reference site method (RSM) is an alter native method for the validation...
This paper describes a new facility that has been introduced recently to provide high precision traceable scattering parameter measurements of waveguide devices in the frequency range 140 GHz to 220 GHz (i.e. in waveguide size WR-05). The facility comprises measurement instrumentation situated at the University of Leeds and associated primary reference standards provided by the National Physical Laboratory...
A determination of the reference impedance for the three standards line-attenuator-reflect (LAR) on-wafer vector network-analyzer (VNA) calibration is proposed. As a result, it is shown that the reference impedance to which the LAR calibration is referred cannot generally be determined. Based on this consideration, a modified LAR calibration allows a precise determination of the reference impedance...
An automated 1-kHz null-balance receiver for the RF attenuation measurement system based on the dual-channel intermediate frequency substitution method was constructed and examined. A commercial programmable inductive voltage divider (IVD) was applied as its attenuation reference; however, highly accurate voltage ratios were ensured by the developed voltage ratio standard system. It is shown that...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.