Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
The internal gate resistor RGi of an IGBT power module is the most promising temperature sensitive electrical parameter for real-time junction temperature measurement in a working voltage source inverter. This paper investigates RGi-based junction temperature measurement and compares it with the widespread UCE-method that is used for device characterization in laboratory setups. It is found that both...
During operation steep lateral temperature gradients evolve in IGBT power semiconductor chips. The influence of these lateral gradients on the measurement of the virtual junction temperature by means of the widely used VCE(T)-method was investigated. In particular we address the question, how the obtained single temperature value is connected to the temperature distribution of the chip. A combination...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.