Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Stress sensing test chips are widely utilized to investigate integrated circuit die stresses arising from assembly and packaging operations. In order to utilize these test chips to measure stresses over a wide range of temperatures, one must have values of six piezoresistive coefficients for n- and p-type silicon over the temperature range of interest. However, the literature provides limited data...
The present work aims at studying the cooling performance of a thermoelectric device that integrated with integrated heat spreader (IHS) on a flip-chip plastic ball grid array (FC-PBGA) package. The new thermoelectric device herein is fabricated on the metal substrates by flip-chip assembly process. Thermal performance of the new package was comprehensive studied. The thermal resistances of IHS with/without...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.