Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Reliability issues concerning integrated systems based on nano-electronic devices have been a matter of research for years. Early focus was on transient fault effects due to particle radiation and failing interconnects due to thermal stress and metal migration. More recently, transistor parameter deterioration due to permanent input voltages at MOS transistor gates has been investigated. One potential...
This paper proposes an algorithm for the detection of resistive delay faults in deep submicron technology using dynamic strength scaling, which is applicable for 45 nm and below. The approach uses an advanced coding system to build logical functions that are sensitive to strength and able to detect even the slightest voltage changes in the circuit. Such changes are caused by interconnection resistive...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.