Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
The deposition of 1 ML of As on Si(001)-(2×1) surface and the heteroepitaxial Ge/As/Si(001)-(2×1) growth were studied by using high resolution core-level spectroscopy and transmission electron microscopy (TEM). From the spectral decomposition of the Si2p core levels, collected on the Ge/Si interfaces obtained by codepositing As and Ge atoms at different Ge thickness, we identify the contribution of...
We have investigated the ordering of germanium islands on a relaxed uniform Si 0.84 Ge 0.16 buffer layer by atomic force microscopy and transmission electron microscopy. A pronounced ordering with the islands situated along dislocation slip band lines was observed. The resemblance of this ordering to the ordering obtained with compositionally graded buffer...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.