The Infona portal uses cookies, i.e. strings of text saved by a browser on the user's device. The portal can access those files and use them to remember the user's data, such as their chosen settings (screen view, interface language, etc.), or their login data. By using the Infona portal the user accepts automatic saving and using this information for portal operation purposes. More information on the subject can be found in the Privacy Policy and Terms of Service. By closing this window the user confirms that they have read the information on cookie usage, and they accept the privacy policy and the way cookies are used by the portal. You can change the cookie settings in your browser.
Przedstawiono zastosowanie mikroskopii bliskich oddziaływań (ang. Scanning Probe Microscopy - SPM) w miernictwie właściwości mikro- i nanostruktur. Omówiono uwarunkowania eksperymentalne i podstawowe metody, których celem jest przeprowadzenie ilościowej analizy parametrów badanych układów. Zaprezentowano również wyniki badań prowadzonych w trybie kalibrowanej mikroskopii sił atomowych (ang. Calibrated...
W artykule przedstawiono nową metodę umożliwiającą sterowanie mikroskopem sił atomowych, pracującym w trybie statycznym przy użyciu systemu DSP ADwinPro firmy Keithley. Opisano metodę pomiaru topografii powierzchni z wykorzystaniem cyfrowego regulatora PID pracującego przy wykorzystaniu dwóch wartości zadanych. Przedstawiono wyniki z pomiarów topografii powierzchni azotku aluminium, wykonane przy...
Set the date range to filter the displayed results. You can set a starting date, ending date or both. You can enter the dates manually or choose them from the calendar.