Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Discrete package Insulated Gate Bipolar Transistor (IGBT) devices are a popular choice for low-medium power converters. Although IGBT power modules have been extensively studied in literature, there exists a major gap for reliability study particularly for discrete devices. Current failure diagnostic tools are not mature enough for failure diagnosis and prognosis in real-time operation based on system...
Identification of power device failure precursors is essential for condition monitoring, fault severity assessment and lifetime estimation. These tools constitute the fundamental elements to achieve highly reliable power converters with self-diagnosis capability, which can report incipient faults at very early stage. In this paper, several discrete IGBTs are thermally aged on a custom-built modular...
A novel technique to evaluate changes over time of trigger circuit parameters, especially the power transistors of standard power electronic converters is proposed. This technique takes advantage of existing instrumentation and provides a key novel feature to assess the aging status of power electronic circuits and electric machines as a result of transistor degradation. We propose the use of a low-cost...
To advance the field of electronics prognostics, the study of transistor fault modes and their precursors is essential. This paper reports on a platform for the aging, characterization, and scenario simulation of gate controlled power transistors. The platform supports thermal cycling, dielectric over-voltage, acute/chronic thermal stress, current overstress and application specific scenario simulation...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.