Une méthode pour la détermination du soufre total dans les matériaux géologiques utilisant la spectrométrie d’émission optique couplée à un plasma inductif (ICP‐OES) est décrite. Nous montrons que de bons résultats ont été obtenus en utilisant cette méthode, même pour les échantillons à très faible (< 20 μg g−1) concentration en soufre (par exemple, la péridotite). Le soufre a été mesuré dans une quinzaine de matériaux géologiques de référence caractérisés par des teneurs en soufre différentes. Pour les matériaux de référence avec des teneurs certifiés en soufre, la méthode ICP‐OES a donné des résultats en excellent accord avec les valeurs certifiées, avec des incertitudes meilleures que 4% RSD. Les résultats ICP‐OES pour le soufre dans les autres matériaux de référence ont donné des RSD meilleurs que 10%, lorsque la concentration en S était > 100 μg g−1 (sauf pour la diabase W‐2a, RSD de 16%). Les matériaux de référence à faible teneur en soufre (< 40 μg g−1) ont donné des RSD beaucoup plus élevés (17–18%). Sauf pour RMs avec les valeurs certifiées, la plupart des données obtenues par la méthode par combustion et détection infrarouge ont généralement montré des concentrations plus élevées que celles mesurées par ICP‐OES et un meilleur RSD (≤ 8% pour tous les matériaux sauf DTS‐2b).