Frontiers in Electronic Testing > Embedded Processor-Based Self-Test > 157-183
Source
Abstract
Identifiers
series ISSN : | 0929-1296 |
book ISBN : | 978-1-4419-5252-3 |
book e-ISBN : | 978-1-4020-2801-4 |
DOI | 10.1007/978-1-4020-2801-4_6 |
series ISSN : | 0929-1296 |
book ISBN : | 978-1-4419-5252-3 |
book e-ISBN : | 978-1-4020-2801-4 |
DOI | 10.1007/978-1-4020-2801-4_6 |