Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Two System Test Program Sets (TPS), Digital-Analog (DA) and Radio Frequency (RF) Calibration for the Versatile Depot Automatic Test Station (VDATS) were developed to semi-automate the process of Automated Test Equipment (ATE) calibration. Calibration for ATE in the U.S. Air Force (USAF) is defined as the verification of instrumentation accuracy by comparing the instrument to a known standard. The...
The art of test is being able to anticipate and replicate the stresses of a product's intended end use. This paper is an overview of a range of test options for wireless transmitter-receiver pairs; in particular those that will ultimately experience separation distance, or relative motion, thereby introducing a wide range of additional Radio Frequency (RF) effects, not typically found in indoor wireless...
A method of generating phase-continuous, coherent radar target returns is described which leverages existing Commercial Off-The-Shelf (COTS) Radio Frequency (RF) channel simulator technology. This hardware-in-the-loop system avoids the generation of unintentional spurious signals due to the discrete range steps typically utilized in traditional radar test sets. The time delay, Doppler, and amplitude...
System integration testing (SIT) is still relied upon for final confirmation of data link products. SIT, a costly process, is still required for most circuit card sub-assemblies because of the risk that lower level testing is either insufficient or incomplete. A description of production testing and debug is presented.
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.