Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
We propose a column-based split cell-VSS (CS-CVSS) data-aware write-assisted (DAW A) 9T ultra-low voltage SRAM with enhanced read sensing margin in 28nm FDSOI technology. The proposed write-assist technique (CS-CVSS and DAWA) improve both half-select SNM and write margin. The proposed 3T low leakage read port enhances read sensing margin by minimizing bitline leakage through negative gate to source voltage. A 16kb 9T SRAM test chip demonstrates VDDMIN-Write improvement of 0.39 V and VDDMIN-Read of 0.25 V with 1.57 ps read access time. The energy of 6.72 pJ is achieved at 0.5 V.