2017 XX IEEE International Conference on Soft Computing and Measurements (SCM) > 372
Źródło
Abstrakt
Identyfikatory
e-ISBN książki : | 978-1-5386-1810-3 |
DOI | 10.1109/SCM.2017.7970588 |
e-ISBN książki : | 978-1-5386-1810-3 |
DOI | 10.1109/SCM.2017.7970588 |