2012 19th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits > 1 - 6
Źródło
Abstrakt
Identyfikatory
ISSN książki : | 1946-1542 |
e-ISSN książki : | 1946-1550 |
ISBN książki : | 978-1-4673-0980-6 |
e-ISBN książki : | 978-1-4673-0983-7 , 978-1-4673-0982-0 |
DOI | 10.1109/IPFA.2012.6306260 |