2009 24th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems > 164 - 172
Źródło
Abstrakt
Identyfikatory
ISSN książki : | 1550-5774 |
ISBN książki : | 978-0-7695-3839-6 |
DOI | 10.1109/DFT.2009.34 |
ISSN książki : | 1550-5774 |
ISBN książki : | 978-0-7695-3839-6 |
DOI | 10.1109/DFT.2009.34 |