Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
To solve the problem of fluctuations in clock timing with digital LSIs (also known as the "clock skew" problem), we propose a genetic algorithm (GA) based clock adjustment method that ensures robust clock-timing to cope with fluctuations in the LSI environment such as temperature or power supply voltage. This method is realized by the combination of dedicated adjustable circuitry and adjustment GA software, with the values for multiple adjustable delay circuits inserted into the clock lines being determined by the GA software after fabrication. Experimental results demonstrate that the proposed method can enhance the operational yields of developed test chips while ensuring sufficient timing margins.