Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Atomic force microscopy (AFM) scans of a crystal surface containing an atomic defect were simulated in both contact and non-contact regimes. When scanning in contact mode near a defect, the tip-sample force interaction experiences bifurcation of the lines of constant force. When the load force is small, the bifurcation causes the tip to be ''pushed'' out of the defect. However, if scan force is higher...
We show theoretically that atomic resolution imaging of a polar surface can be achieved by using an atomic force microscope with a charged tip (CAFM). The image is obtained by analyzing the Coulomb interaction force between the charged tip and the polar surface, which not only displays striking contrasts between atoms of different charges but also exhibits a short-range exponential decay when increasing...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.