Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
The role of Ni impurities on the structure of the Si(001)-(2 1) surface has been investigated by statistically comparing STM patterns with Auger spectra. Characteristic reconstructed local structures (@'split off dimers@' and @'vacancy channels@') are observed for different surface concentrations of Ni as measured by Auger electron spectroscopy, and it is shown that the STM image provides a high sensitivity to Ni. For high levels of Ni contamination, long range roughening of the Si(001) surface is observed resulting in more than 50 corrugation and loss of atomic structure as detected by the STM. Crystal support cleaning procedures and crystal annealing procedures have been devised permitting Si(001) crystals to be repeatedly heated over long time periods without undergoing surface contamination or macroscopic roughening.