Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
The high resolution transmission electron microscope (HRTEM) imaging of short range order (SRO) in Ni4Mo was investigated by means of multi-slice image simulations. The HRTEM images of Ni4Mo exhibit locally bright dot patterns corresponding to the [001] projections of the N2M2-type (chalcopyrite-like) structure. The multi-slice simulations revealed that the N2M2 patterns are rationalized as the projection patterns of the SRO structure which consists of subunit cell clusters of D1a, D022 and Pt2Mo structures. The N2M2-type image contrast appears when both the fundamental fcc lattice reflections and the 1 1/2 0 diffuse scattering of SRO contribute enough to imaging. This suggests that a good coincidence in intensity distribution between the Fourier power spectra of HRTEM images and the electron diffraction patterns is one of the conditions for the image contrast of SRO to be interpreted in terms of the projection contrast.