Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
A new experimental approach for characterizing the internal trapped charge and electric field build up in ground-coated insulators during their e - irradiation
An original method is proposed to investigate the dynamical trapping properties of bulk insulators during their irradiation by keV electrons when they are coated with a grounded metallic film. This method is based on the measurement of the displacement current and it allows to evaluate time constants for charging and discharging the dielectric as well as to evaluate the electric field build up and trapped charge density below the coating. This method is illustrated by the estimate of the charging and discharging time constants in e - irradiated PMMA and the estimate of the magnitude of the electric field which drives the migration of the mobile ions in e - irradiated glasses.