Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
We have investigated the atomic hydrogen (H)-surfactant mediated growth of Ge on Si(111) surface, using coaxial impact-collision ion scattering spectroscopy (CAICISS), time-of-flight elastic recoil detection analysis (TOF-ERDA) and scanning electron microscopy (SEM). It has been found that the Ge thin film on the Si(111)1×1-H surface is flattened by the H-surfactant, whilst on the Si(111)7×7 surface...
Determination of atomic concentrations in thin films is one of the key problems in materials science. Time-of-Flight Elastic Recoil Detection Analysis is a powerful method for depth profiling of light and medium mass elements in near surface layers of material. However, due to poor detection efficiency those spectrometers are not commonly used for hydrogen analysis. We have performed some improvements...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.