Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
C 60 crystals grown by vapour transport may exhibit rough surfaces depending on the cooling conditions at the end of growth. The rough surfaces are due to hillocks of about 0.1-0.3 μm on {002} and {111} faces. Hillocks on {002} faces are square pyramids bounded by {111} surfaces or surfaces deviating from {111}. Hillocks on {111} faces are triangular pyramids bounded by stepped {111} surfaces. The density of crystal defects in as-grown and cleaved crystals is much lower than in crushed crystals. The high density of defects in crushed crystals is induced by specimen preparation. HREM imaging and simulation has confirmed that the cleaved surfaces are clean and free of lattice relaxation.