Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
A method is presented to determine the coating thickness on a metallic substrate in energy dispersive X-ray fluorescence. The method is based on the measurement of incoherent scattered radiation. Energy dispersive XRF apparatus includes a filtered Am 241 point source and an Si(Li) detector with resolution 160eV at 5.9keV. The thicknesses of the coating materials found by the scattered radiation have been compared with thicknesses found by the gravimetric method. The obtained results show that there is good agreement between the present experimental results and the values of the gravimetric method within the estimated experimental error.