Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Sponge-like and columnar porous silicon (PS) were prepared from p- and n-type (100) monocrystalline silicon wafers using different anodization conditions (hydrofluoric acid concentration, current density and anodization time) and then implanted with nitrogen by plasma immersion ion implantation (PIII). The effect of the implantation and of the compounds formed was analyzed by measuring the reflectance of the implanted samples for wavelengths between 220 and 800 nm. A reduction in reflectance in the ultraviolet (UV) region of the spectrum was observed for polished Si samples and for all kinds of PS samples. Increased UV-induced photoluminescence in these samples caused by the increase in absorption in the UV region is expected.