The Infona portal uses cookies, i.e. strings of text saved by a browser on the user's device. The portal can access those files and use them to remember the user's data, such as their chosen settings (screen view, interface language, etc.), or their login data. By using the Infona portal the user accepts automatic saving and using this information for portal operation purposes. More information on the subject can be found in the Privacy Policy and Terms of Service. By closing this window the user confirms that they have read the information on cookie usage, and they accept the privacy policy and the way cookies are used by the portal. You can change the cookie settings in your browser.
Urządzenia, opracowane w Przemysłowym Instytucie Elektroniki (PIE) w Warszawie, zawierają ultratermostat oraz piece średnio- i wysokotemperaturowy. Artykuł prezentuje budowę tych urządzeń oraz automatyczne funkcje komputerowego układu sterowania i obróbki wyników pomiarowych.
Artykuł omawia budowę i parametry urządzenia SKCT-99 do kalibracji metodą porównawczą użytkowych czujników temperatury w zakresie temperatury 200...1300°C. Składa się ono z poziomego pieca rurowego, bloku pomiarowego, oferowanego w dwóch wersjach oraz komputera z oprogramowaniem sterującym i pomiarowym. Zaprezentowano także przykłady obliczeń niepewności kalibracji dla wybranych przypadków.
Niniejsza praca dotyczy niepewności pomiarowych w nanoskali. Przedstawiono problem kalibracji skaningowego mikroskopu tunelowego (STM) na przykładzie badania powierzchni wysoce zorientowanego grafitu pirolitycznego (HOPG) oraz cienkich warstw złota Au(111). Zwrócono również uwagę na interpretacje obrazów otrzymywanych za pomocą skaningowego mikroskopu tunelowego.
W artykule opisano urządzenie do kalibracji czujników temperatury opracowane na podstawie systemu pomiarowego Keithley 3706. Urządzenie to może być stosowane przez laboratoria dużych i średnich jednostek przemysłowych. Omówiono podstawowe aspekty budowy oraz algorytmu pomiarowego. Przedstawiono główne zalety takiego rozwiązania jak również krótko omówiono możliwe usprawnienia.
Dotychczasowe rozwiązanie stanowiska kalibracji użytkowych czujników temperatury oferowane przez ITR umożliwiało kalibrację czujników termoelementowych i oporowych o długościach powyżej 500 mm w zakresie temperatur 200...1300° C, ze względu na zastosowanie jednostrefowego pieca elektrycznego. Zmodernizowane urządzenie oparto na piecu dwustrefowym, co umożliwiło kalibrację czujników o długości od 300...
The analysis of the field characteristics of magnetic sensors based on split Hall structures has been conducted in presented research work. Having a number of advantages (including the capability to be integrated into three-component magnetic probes with high spatial resolution), such split Hall structures require further analysis of output voltage dependence on magnetic induction vector. Besides,...
Kamery termowizyjne oraz używane w nich matrycowe detektory podczerwieni w procesie produkcyjnym są poddawane procedurze kalibracji i wyznaczania czułości napięciowej na padające na nie promieniowanie. Detektory na stanowisku kalibracyjnym są oświetlane promieniowaniem podczerwonym poprzez specjalne układy optyczne. Każdy układ optyczny zastosowany w torze optycznym wpływa na rozkład promieniowania...
W artykule opisano metodę wyznaczania czułości detektorów podczerwieni w matrycy mikrobolometrycznej. W metodzie tej uwzględniono parametry geometryczne i optyczne matrycy detektorów podczerwieni oraz układu pomiarowego. Opracowano specjalne stanowisko pomiarowe składające się z dwóch precyzyjnych powierzchniowych ciał czarnych, przesłon ograniczających aperturę układu pomiarowego, interfejsu elektronicznego...
Przeprowadzono analizę metod i sposobu kalibracji skaningowego mikroskopu elektronowego (SEM) w celu określenia optymalnych wartości jego podstawowych parametrów z punktu widzenia minimalizacji ich wpływu na niepewność wyników pomiaru wymiarów w zakresie nanometrowym. Podano wzory na niepewność pomiarów średnicy wiązki elektronów i współczynnika skali ekranu (powiększenia) tego mikroskopu. Wykazano,...
There are many possible ways to calibrate the Kelvin Probe Force Microscope [1] and various accuracy levels can be achieved accordingly to employed method. The paper presents novel method for calibrating Kelvin Probe Force Microscope. The method is based on measuring the surface potential of a reference sample and comparing it with the results obtained by KFM. It offers a calibration possibility in...
Obwody kontroli ciągłości uziemienia iskrobezpiecznego wymagają dużej liczby pomiarów kontrolujących wartości poszczególnych elementów układu. Artykuł prezentuje nowatorskie rozwiązanie takiego obwodu pomiarowego, pozwalające znacznie uprościć proces i skrócić czas kalibracji całego urządzenia.
Artykuł opisuje metodę kalibracji czujnika 3D. Na przykładzie czujnika pola magnetycznego, została zaprezentowana metoda kalibracji zniekształceń wprowadzanych przez trójwymiarowe czujniki – przyspieszenia (akclerometr), pola magnetycznego (kompas cyfrowy) oraz prędkości kątowej (żyroskop) – używane w systemach nawigacji inercyjnej. Opracowany został algorytm wyznaczania i kompensacji zniekształceń...
Set the date range to filter the displayed results. You can set a starting date, ending date or both. You can enter the dates manually or choose them from the calendar.