Biuletyn Wojskowej Akademii Technicznej > 2009 > Vol. 58, nr 1 > 351-360
Source
Abstract
Identifiers
journal ISSN : | 1234-5865 |
Authors
Keywords
Additional information
Publisher
Fields of science
Bibliography
-
[1] M. Pawłowski, P. Kamiński, R. Kozłowski, S. Jankowski, M. Wierzbowski, Intelligent measuring system for characterization of defect centres in semi-insulating materials by photoinduced transient spectroscopy, Metrology and Measurement Systems, vol. 11, no. 2, 2005, 207-228.
-
[2] M. Pawłowski, Dwuwymiarowość widm w niestacjonarnej spektroskopii fotoprądowej, Materiały Elektroniczne ITME, 28, 2000, 18-30.
-
[3] M. Miczuga, M. Pawłowski, P. Kamiński, R. Kozłowski, M. Pawłowski, System pomiarowy do badania centrów defektowych w półprzewodnikach wysokorezystywnych o szerokiej przerwie energetycznej, Materiały Konf. Metrologia Wspomagana Komputerowo MWK'2005, Waplewo, 17-20 maj 2005, 79-86.