Omówiono źródła niejonowych zanieczyszczeń występujących na pakietach elektronicznych, metodę powierzchniowej rezystancji izolacji (SIR) pomiaru zanieczyszczeń niejonowych i wymagania na SIR. Przedstawiono wyniki badań zanieczyszczeń niejonowych metodą SIR-ometryczną.
Part 2 has informed about sources of non - ionic contamination left on electronic assemblies surface insulation resistance measurement (SIR) methods of non - ionic contamination and requirements for SIR value. The results of non - ionic contamination examined in SIR-ometer has been described.