W artykule zbadano wrażliwość charakterystyki częstotliwościowej filtrów eliptycznych na zmianę parametrów składowych struktur bikwadratowych. Dla potrzeb przeprowadzonej analizy wrażliwości wprowadzono parametry opisujące jednoznacznie charakterystykę filtrów. W ramach analizy zaproponowano metodę obliczania odchyłek tych parametrów, dla zadanych odchyłek parametrów struktur. Metoda ta bazuje na wyznaczeniu w sposób numeryczny odpowiednich małoprzyrostowych współczynników wrażliwości. Analizę ograniczono do przypadku filtru znormalizowanego parzystego rzędu. Rozważania zilustrowano przykładem liczbowym.
In this article the sensitivity of the characteristic of elliptic filters on influences in the change of parameters of the constituent biquadratic structures was tested. For needs of carried out analyzes of the sensitivity the parameters that describe unambiguous the filters' characteristics were brought into effect. Within the confines of this analyze the method of counting the deviations of these parameters for given deviations of the structure parameters was suggested. This method relies on calculating in numerical way the suitable low-incremental coefficients of the sensitivity. This analyze was limited to the case of normalized filter of the even order. Any considerations were illustrated by means of numerical example.