Materials Science > 2003 > Vol. 21, No. 3 > 339-343
Źródło
Abstrakt
Identyfikatory
ISSN czasopisma : | 0137-1339 |
Autorzy
Słowa kluczowe
Informacje dodatkowe
Wydawca
Obszary wiedzy
Bibliografia
-
[1] Vinci R.P., Zieliński E.M., BravmanI.C., Thin Solid Films, 262 (1995), 142.
-
[2] Gutman R.J., Chow T.P., Koloyeros A.E., Lanford W.A., Muraka S.P., Thin Solid Films, 262 (1995), 177.
-
[3] McCuster N.D., Gamble H.S., Armstrong B.M., Microelectronics Reliability, 40 (200), 69.