Many complex engineering systems experience reliability growth in successive test stages. In most existing reliability demonstration test models, reliability growth is not incorporated. In this paper, for binomial systems with 2 test stages, a reliability demonstration test model is presented that takes possible reliability growth into consideration. Likelihood ratios are defi ned for various possible situations, and statistical decision rules are derived. With a given example, the relative lower decision risk of the proposed model is illustrated by comparison with that of classical demonstration test models.
Wiele złożonych systemów inżynieryjnych przechodzi proces wzrostu niezawodności w kolejnych etapach badań. Większość istniejących modeli badań potwierdzających niezawodność nie uwzględnia jednak wzrostu niezawodności. W niniejszym artykule przedstawiono model badania niezawodności dla systemów dwumianowych o 2 etapach testowych, który bierze pod uwagę możliwy wzrost niezawodności. Określono wskaźniki prawdopodobieństwa dla różnych możliwych sytuacji oraz wyprowadzono statystyczne reguły decyzyjne. Podany przykład ilustruje względnie niższe ryzyko decyzyjne proponowanego modelu w stosunku do tego, jakie niosą klasyczne modele badań.