Przegląd Elektrotechniczny > 2016 > R. 92, nr 11 > 23--26
Source
Abstract
Identifiers
journal ISSN : | 0033-2097 |
journal e-ISSN : | 2449-9544 |
DOI | 10.15199/48.2016.11.06 |
Authors
Keywords
Additional information
Publisher
Fields of science
Bibliography
-
[1] Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architeture, IEEE Std 1149. ™-2001, (2008)
-
[2] Czaja Z., Bartosiński B., Using an IEEE1149.1 test bus for fault diagnosis of analog parts of electronic embedded systems, Proc. of 19th IMEKO TC4 Symposium, Barcelona, Spain, (2013), 6-11
-
[3] Czaja Z., Bartosiński B., Diagnostyka analogowych filtrów wielosekcyjnych oparta na magistrali testującej IEEE1149.1, Pomiary, Automatyka, Kontrola, 60 (2014), 745-748