Annales Universitatis Mariae Curie-Skłodowska. Sectio AI, Informatica > 2012 > Vol. 12, no. 1 > 31--37
Source
Abstract
Identifiers
journal ISSN : | 1732-1360 |
journal e-ISSN : | 2083-3628 |
DOI | 10.2478/v10065-012-0005-3 |
Authors
Keywords
Additional information
Publisher
Fields of science
Bibliography
-
[1] Lewińska-Romicka A., Pomiary grubości powłok, Biuro Gamma, Warszawa (2001).
-
[2] Bronkiewicz A., Ptak P., Wybrane aspekty metrologiczne metody pomiaru grubości warstw wierzchnich na podłożach ferromagnetycznych, Materiały V Krajowej Konferencji PES-5 Postępy w Elektrotechnice Stosowanej, Zakopane-Kościelisko (2005): 283.
-
[3] Kurkowski M., Analiza sygnałów przy użyciu pakietu DasyLab, XXXII MKM’2000, Rzeszów-Jawor, 11-15.09. 2000, Materiały T.2 (2000): 389.