Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
We present a numerical analysis of apertureless terahertz near-field microscopy (THz NFM), and successfully demonstrate that the THz NFM can have nanometer-scale resolution. For the numerical analysis we used HFSS based on finite element method (FEM). It is found that the THz near-field is strongly localized between two particles.
We propose a self-consistent analytic scattering theory for apertureless THz near-field microscope (NFM) which is based on an exact image theory. In this new scattering theory, a quasi-electrostatic image theory is adopted to include the effects of the specular reflection of the incident field and the exact image dipoles induced in the probe tip and the sample substrate. The analytic results from...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.