Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
This work presents an extensive analysis of the analog properties, in particular in terms of noise performance, of MOSFET devices belonging to a 65 nm low power CMOS technology exposed to ionizing radiation. The behavior of the 1/f and white noise terms is studied as a function of the main device parameters before and after exposure to 10 keV X-rays and 60Co γ-rays. The results provide a valuable...
Deep N-well (DNW) CMOS monolithic active pixel sensors (MAPS) fabricated in a 130 nm technology have been exposed to γ-rays up to an integrated dose of about 10 Mrad and subjected to a 100 °C/168 h annealing cycle. Device tolerance to total ionizing dose has been evaluated by monitoring the change in charge sensitivity, noise and charge collection properties after each step of the irradiation and...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.