Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
In spectroscopic ellipsometry (SE) measurements of thin films with inhomogeneous optical thickness, the spot size of the probe beam on the sample surface is a highly critical parameter in the treatment of the experimental data. SE measurements were performed on transparent samples prepared by various techniques: plasma enhanced chemical vapor deposition of diamond him, spin-coated PMMA films and thermally...
The outstanding thermal conductivity of CVD diamond gives rise to many potential industrial applications, necessitating the availability of reliable, standardized, thermal measurement methods. Although, in general, these measurements are in agreement for traditional materials, for CVD diamond different measurement methods can yield significantly different values for comparable or even identical samples...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.